靜電是一種常見(jiàn)的、自然發(fā)生的現(xiàn)象，但在研究實(shí)驗(yàn)室中，包括在分析稱(chēng)量過(guò)程中，它可以產(chǎn)生各種有害的影響。靜電會(huì)對(duì)稱(chēng)量過(guò)程本身或結(jié)果產(chǎn)生不利影響，它們不僅會(huì)導(dǎo)致絕對(duì)重量不準(zhǔn)確，還會(huì)導(dǎo)致漂移和重復(fù)性差，從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量，因此需要耗費(fèi)時(shí)間的材料選擇或處理程序來(lái)應(yīng)對(duì)這些問(wèn)題。

帶有集成靜電中和技術(shù)的分析天平可以解決靜電煩惱，并確保各種分析稱(chēng)重應(yīng)用的準(zhǔn)確性，是一種緊湊且有效的解決方案。Cubis® II 分析天平和半微量天平集成了電荷中和技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的稱(chēng)量性能。

靜電荷是如何形成的

電子逸出功是指一個(gè)電子離開(kāi)金屬表面所需的能量。兩個(gè)物體之間的摩擦?xí)l(fā)離子形成，因此電子逸出功較低的物質(zhì)很容易給電子逸出功較高的物質(zhì)提供電子。在稱(chēng)重過(guò)程中，樣品內(nèi)部或樣品與容器或皮重容器之間存在摩擦，會(huì)產(chǎn)生靜電。

靜電荷對(duì)分析稱(chēng)重的影響

待稱(chēng)重物質(zhì)與天平固定部位相互作用，因該部位與稱(chēng)重盤(pán)（包括通風(fēng)罩或底板）沒(méi)有導(dǎo)電連接，所以導(dǎo)致物質(zhì)表面電荷積聚，進(jìn)而產(chǎn)生靜電力。這些靜電力可能會(huì)產(chǎn)生虛假絕對(duì)重量（即與實(shí)際重量顯著偏離），并影響稱(chēng)重精度。當(dāng)電荷通過(guò)稱(chēng)量盤(pán)消散時(shí)，靜電力的變化會(huì)導(dǎo)致漂移，從而產(chǎn)生不一致的結(jié)果并降低重復(fù)性。

如果稱(chēng)重容器和環(huán)境都帶負(fù)電，那么所產(chǎn)生的排斥力會(huì)將施加在天平上，從而產(chǎn)生比實(shí)際重量更重的虛假絕對(duì)重量。如果稱(chēng)重容器和環(huán)境的電荷相反，所產(chǎn)生的吸引力將產(chǎn)生比實(shí)際重量更輕的虛假絕對(duì)重量。

靜電中和技術(shù)

賽多利斯 Cubis® II 采用了集成的電荷中和技術(shù)，可有效去除樣品和容器中的電荷，從而實(shí)現(xiàn)更精確的分析稱(chēng)重。